Keithley 4200半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
Keithley 4200半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)
使用 4200A加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和超快脈沖 I-V 測(cè)量

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-06-24

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Keithley 4200半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)

• 使用 4200A加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 .高性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。

• 內(nèi)置測(cè)量視頻采用英語(yǔ)、中文、日語(yǔ)和韓語(yǔ)

• 使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測(cè)試開(kāi)始您的測(cè)試

• 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

• 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換無(wú)需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端

• 用戶可配置低電流功能，個(gè)性化輸出通道名稱，查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)

• NBTI/PBTI 測(cè)試，隨機(jī)電報(bào)噪聲，非易失內(nèi)存設(shè)備，穩(wěn)壓器應(yīng)用測(cè)試

型號(hào)	說(shuō)明
4200A-SCS-PK1	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，對(duì)于兩端和三端設(shè)備，MOSFET、CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK1 包括：
高分辨率 IV 套件	• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4200-PA 前置放大器
	• 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備
4200A-SCS-PK2	210V/100mA，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對(duì)于高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 檢定套件4200A-SCS-PK2
高分辨率 IV 和 CV 套件	包括：
	• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 電容-電壓模塊
	• 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備
4200A-SCS-PK3	210V/1A，0.1 fA 分辨率，1kHz - 10MHz，對(duì)于功率設(shè)備、高 K 電解質(zhì)，深亞微米 CMOS 設(shè)備檢定套件
高分辨率和高功率 IV 和 CV 套件	4200A-SCS-PK3 包括：
	• 4200A-SCS 參數(shù)分析儀
	• 4200-SMU 模塊
	• 4210-SMU
	• 4200-PA 前置放大器
	• 4210-CVU 電容-電壓模塊
	• 8101-PIV 測(cè)試夾具與采樣設(shè)備
4200-BTI-A	用于使用尖.端 CMOS 技術(shù)套件進(jìn)行復(fù)雜的 NBTI 和 PBTI 測(cè)量4200-BTI-A 包括：
超快 NBTI/PBTI 套件	• 4225-PMU 超快 I-V 模塊
	• 4225-RPM 遠(yuǎn)程前置放大器/開(kāi)關(guān)模塊
	• 自動(dòng)化檢定套件 (ACS) 軟件
	• 超快 BTI 測(cè)試項(xiàng)目模塊
	• 電纜