光電流測(cè)試

產(chǎn)品簡介
光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

產(chǎn)品型號(hào)：S-LBIC

更新時(shí)間：2025-06-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

訪問量：1963

產(chǎn)品咨詢 18117546256

產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光譜系統(tǒng)

顯微缺陷膜厚半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀高光譜測(cè)試系統(tǒng) 瞬態(tài)吸收系統(tǒng) 太陽能電池量子效率太陽光模擬器IV系統(tǒng) 顯微光電流成像系統(tǒng) 探測(cè)器光響應(yīng)度系統(tǒng) 光譜變溫附件探針臺(tái) 拉曼SERS增強(qiáng)試劑顯微熒光系統(tǒng) 組合熒光系統(tǒng) 鏡頭透過率測(cè)試系統(tǒng) 漫反射率測(cè)試系統(tǒng) 反射、吸收率系統(tǒng) 成像亮度計(jì) 標(biāo)準(zhǔn)燈參考輻射定標(biāo) 電致發(fā)光系統(tǒng) 常規(guī)發(fā)射光譜系統(tǒng) 共聚焦拉曼光譜儀

查看全部產(chǎn)品

相關(guān)文章

光電流測(cè)試系統(tǒng)概述

Newwave激光在電子行業(yè)中的應(yīng)用

一文帶你了解溫度快速變化試驗(yàn)箱的產(chǎn)品性能

共聚焦拉曼光譜儀適用于哪里的呢

詳細(xì)介紹在線留言

　　光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

　　主要原理：

　　光電流測(cè)試的原理是利用光照射器件或材料后，通過測(cè)量器件或材料的電流輸出來判斷其光電性能。測(cè)試時(shí)，光源會(huì)照射在待測(cè)試樣品上，產(chǎn)生電子和空穴對(duì)并使其發(fā)生光電效應(yīng)，從而產(chǎn)生電流輸出。根據(jù)電流輸出的大小和特征，可以判斷樣品的光電性能和特性參數(shù)。

光電流測(cè)試

　　主要步驟：

　　(1)準(zhǔn)備測(cè)試樣品：準(zhǔn)備待測(cè)試的器件或材料，并將其放置在測(cè)試臺(tái)上。

　　(2)設(shè)置測(cè)試條件：根據(jù)測(cè)試要求，設(shè)置光源的光強(qiáng)、波長、照射時(shí)間等測(cè)試條件。

　　(3)進(jìn)行測(cè)試：打開光源，照射待測(cè)試樣品，記錄測(cè)試數(shù)據(jù)。

　　(4)分析測(cè)試結(jié)果：根據(jù)測(cè)試數(shù)據(jù)，分析樣品的光電性能和特性參數(shù)，如響應(yīng)時(shí)間、量子效率、光電轉(zhuǎn)換效率等。

　　S-LBIC光電流測(cè)試簡介

　　• 寬光譜范圍(200~14000nm可選)，適用面廣

　　• 調(diào)制法測(cè)量技術(shù)，提升測(cè)量結(jié)果信噪比

　　• 開機(jī)即用的Turnkey系統(tǒng)設(shè)計(jì)，維護(hù)簡單

　　• 監(jiān)視光路，方便樣品定位

　　• 全反射光路設(shè)計(jì)，優(yōu)化光斑質(zhì)量

　　• 高穩(wěn)定性光源，降低背景噪聲影響

　　• 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量軟件，數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式支持第三方軟件

　　光電流測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域：

　　• 二維材料，太陽能電池，納米光子學(xué)，光電器件，PN結(jié)器件…

　　特點(diǎn)：

　　• 微米級(jí)空間分辨率

　　• 連續(xù)/脈沖激光可選

　　• 波長連續(xù)可調(diào)的超連續(xù)譜光源可選

　　• nA、pA、fA不同精度的源表可選

　　• 可以測(cè)量不同偏壓下的光電流圖像/光譜響應(yīng)度

S-LBIC顯微光電流成像系統(tǒng)

　　主要應(yīng)用：

　　(1)半導(dǎo)體器件測(cè)試：光電流測(cè)試主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的測(cè)試和分析，如光電二極管、光敏電阻等。

　　(2)光電器件測(cè)試：該測(cè)試方法還可以用于光電器件的測(cè)試和分析，如太陽能電池、光伏發(fā)電系統(tǒng)等。

　　(3)材料研究：光電流測(cè)試還可以應(yīng)用于材料的研究，如光敏材料、半導(dǎo)體材料等的光電性能測(cè)試。

上一個(gè)：半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

返回列表

下一個(gè)：ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)

在線留言

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗(yàn)證碼：

請(qǐng)輸入計(jì)算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

日韩欧美亚洲第一第二区,婷婷伊人久久大香线蕉av,韩国19禁无遮挡啪啪无码网站,fc2成年免费视频在线

產(chǎn)品簡介 光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗(yàn)證碼：

產(chǎn)品簡介
光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。